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  • 岩崎IWATSU CS-5300半导体特性曲线图示仪
    岩崎IWATSU CS-5300半导体特性曲线图示仪 用于二极管,最大峰值电压5,000V(高压模式),LEAKAGE模式(游标分辨率1pA),※无HC模式.可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口.
    01

    更新日期

    2026-04-02
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  • 岩崎IWATSU CS-5200半导体特性曲线图示仪
    岩崎IWATSU CS-5200半导体特性曲线图示仪 用于二极管,最大峰值电压5,000V(高压模式),LEAKAGE模式(游标分辨率1pA),※无HC模式.可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口.
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    2026-04-02
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  • 岩崎IWATSU CS-5100半导体特性曲线图示仪
    岩崎IWATSU CS-5100半导体特性曲线图示仪 用于二极管,最大峰值电压5,000V(高压模式),LEAKAGE模式(游标分辨率1pA),※无HC模式.可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口.
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  • 岩崎IWATSU CS-3300半导体特性曲线图示仪
    岩崎IWATSU CS-3300半导体特性曲线图示仪 用于二极管,晶体管 IGBT,场效应管 MOS-FET, 可控硅 SCR,达林顿阵列,光电耦合,压变电阻 VARISTOR,继电器 RELAY 等半导体器件反向 恢复特性,短路特性,雪崩测试,结电容/电阻测试,漏电参数,击穿参数,增益参数,导 通参数,混合参数,电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 特性测试。
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  • 岩崎IWATSU CS-3200半导体特性曲线图示仪
    岩崎IWATSU CS-3200半导体特性曲线图示仪 用于二极管,晶体管 IGBT,场效应管 MOS-FET, 可控硅 SCR,达林顿阵列,光电耦合,压变电阻 VARISTOR,继电器 RELAY 等半导体器件反向 恢复特性,短路特性,雪崩测试,结电容/电阻测试,漏电参数,击穿参数,增益参数,导 通参数,混合参数,电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 特性测试。
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