更新时间：2019-05-24
日本原装NF高精度LCR测试仪 ZM2371的测试频率是基本精度 0.08％，频率范围 1mHz～100kHz , 测量速度 较快2ms; ZM2372，在ZM2371的功能上4端子的接触检查功能，处理机接口; ZM2376LCR基本精度 0.08％，频率范围 1mHz～5.5MHz , 测量速度 较快2ms，接触检查、低容量检查功能。
日本原装NF高精度LCR测试仪ZM2371/ZM2372/ZM2376介绍：
日本原装NF 高精度LCR测试仪ZM2371测量范围从1mHz低频领域到5.5Hz，测量精度0.08 %。测量速度 快2ms。实现了快速且偏差小的稳定测量，可对应从材料研究到零部 件生产线等的各种用途。
测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5Hz高频领域的NF LCR 测量仪ZM系列
实现了快速且偏差小的稳定测量，可对应从材料研究到零部 件生产线等的各种用途。
偏差小的高再现性 测量示例
按照以下条件使用ZM2372和ZM2376，对1nF的电容反复测量200次后得到的结果。
使用ZM2376，测量的再现性得到了进一步提高。
宽频测量范围和高分辨率设定
ZM2371/ZM2372覆盖了1mHz～100kHz、ZM2376覆盖了1mHz～5.5MHz的频率范围。并可设定5位数/6位数的分辨率*，因此除了在实际使用频率对各种部件进行测量外，还可以对参数的频率依赖性进行评价。
*ZM2371/ZM2372：5位数、ZM2376：6位数
广域的测量电平和ALC功能
对10mVrms～5Vrms/1μArms～200mArms的测量信号电平可进行3位数分辨率的设置。另外，利用ALC（自动电平控制）功能可以设置定电压/定电流驱动，因此可用考虑到试样电压/电流依赖性的稳定驱动信号来驱动，可实现高再现性的测量。
快速测量
测量时间可以在RAP (Rapid)，FAST，MED (Medium)，SLOW，VSLO (Very Slow) 这5种等级切换。选择RAP，可以实现2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz) 的快速测量。快速、高精度的LCR测量仪有助于提高生产线及自动检查装置的测量效率。
高精度
实现了基本精度0.08%、显示分辨率多6位数的高精度测量。值得信赖的测量在从zuixian端器件的开发到检查线零部件分选，对提高产品性能和品质*的。
DC偏置电压
ZM2371/ZM2372内置了0～＋2.5V、ZM2376内置了0～＋5V的DC偏置用电源，可以测量电解电容等极性零部件。
ZM2376还可以快速测量锂离子电池（单电池）等的阻抗。
另外，如果使用选购的DC电压偏置适配器*，可在试样上加载
±40V的偏置电压，测量大容量积层陶瓷电容的电压依赖性等。
*选购
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直流电阻 (DCR) 测量
可测量线圈及变压器的卷线电阻的直流电阻。可以同时在主参数中显示电感，在副参数中显示直流电阻的测量值。
接触检查功能
● 日本原装NF高精度LCR测试仪ZM2372
4端子接触检查
为了防止因测量先端部与零部件间接触不良造成的误测量或错误分选，ZM2372采用4个测量端子来进行接触检查判断，由此排除不良产品。
（进行接触检查的额外时间 4ms)
● ZM2376
接触检查、低容量检查
检测异常的低容量及电压、电流，无需额外时间就能检测出不良接触。
触发电路同步驱动
可以只在接触期间驱动试样的功能。
可以降低在测量大容量电容时，由于安装拆卸试样造成的接触损伤。在短时间内进行测量履历特性的试样，测量值会出现较大的误差。如使用触发电路同步驱动的话，加在各试样上的驱动信号和取得信号的时间以及相位关系都是固定的，可以抑制测量值的误差，大幅缩短测量时间。
偏差显示
预先设置测量部件的显示值，可显示与预设值的偏差、偏差%。 可应用于零部件容许差的规格值的合格判定及温度特性试验等。
比较器
主参数大可分为14个*的BIN类别，在副参数中可以对设定好的1组上下限值的测量结果进行分选。测量值可通过偏差或偏差%进行分选，判定结果通过处理器接口*输出。另外，根据判定结果，有时会发出哔噗的声音。
在远程控制中，使用限值判定功能，也可以对主参数、副参数的上下限值（各1组）进行判定。
*ZM2371：多分9类，未配备处理器接口。
复合测量 (ZM 2376)
复合测量是指对一个试样多可32个步骤的测量条件测量，综合的进行合格判定的功能。可设定每个步骤的测量频率、测量信号电平、内部DC偏压、测量参数等，对主参数的上下限值1组、副参数的上下限值1组进行测量和限值判定。
*ZM2376*的功能。
接口
标配远程控制用的各种接口。无需追加选购件就可对应生产线嵌入及自动检查系统等。
| 接口 | ZM2371 | ZM2372 | ZM2376 |
| USB | ○ | ○ | ○ |
| RS232 | ○ | ○ | ○ |
| GPIB | - | ○ | ○ |
| LAN | - | - | ○（可选） |
| 处理器 | - | ○ | ○ |
嵌入部件的生产线、分选装置中。
快速度2ms、偏差小的测量、抑制连接试样电缆造成影响的补偿功能、比较器及接触检查*
等功能，并且还配备了自动分选用处理器接口*，足以应对各种生产线需求。
*ZM2371未配备。
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嵌入部件的生产线、分选装置中。
快速度2ms、偏差小的测量、抑制连接试样电缆造成影响的补偿功能、比较器及接触检查*
等功能，并且还配备了自动分选用处理器接口*，足以应对各种生产线需求。
快速测量锂离子电池的阻抗。
ZM2376的内部DC偏置电压大可设置为+5V，因此可以测量电动势超过3V的锂离子电池（单电池）。
另外，可从1mHz的低频率开始测量，因此可以对电池的内部阻抗进行详细评价。
标配了可以进行各种测量条件设定及获取、显示测量数据的软件。
可获得CSV文件形式的测量数据，方便在研究开发中的大量数据的处理。此外，可通过扫频测量，对应阻抗 频率特性的测量。
| 2323A 直接连接型测试夹具 对于带有引线的电子元件，可直接插入本测试夹具进行测量。无论是平行引线还是逆向引线的元件,勿须弯曲引线即可测试 |
| 2324 四端子鳄鱼夹测试引线 采用四端子对法，对于低阻抗的四端子元件进行测试时所采用的测试引线，其电流供给与电压测量分别使用不同的端子。 |
| ZM2391 三端子鳄鱼夹测试引线 备有简易测量用的三端子型测试引线。 |
| 2325A（L/M）开尔文夹测试引线 这是用两个夹具、能连接至四个端子的测试引线。对于大型或特殊形状、并难于插入直接连接型测试夹具的电子元件，可使用本测试引线。现备有标准L型和配备小型夹具的M型可供选用。 | |
 [M 型] |  [L 型] | |
| ZM2392 开尔文夹测试引线 备有简易测量用的测试引线。 |
| 2326A 芯片元件用的测试引线 镊状测试引线使表面贴装芯片等元件的测量更加方便。其顶端的测量触点是可装卸的。 |
| ZM2393 芯片测试夹具 本测试夹具用于测量与线路板表面直接连接使用的SMD（表面贴装器件）/芯片元件。其特点是杂散电容小、零点校正容易。 |
