SA8000半导体参数分析仪基于全自主知识产权的 PXIe 架构设计，最多支持 18 个模块同时工作，可灵活组合直流 IV、CV、快速脉冲测量单元，通过高速总线与统一同步触发管理，实现多模块的精准协同测试，无需在多台仪器间反复切换，大幅提升测试效率与数据一致性。

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厂商性质：代理商
更新时间：2026-03-27
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SA8000半导体参数分析仪介绍：

SA8000半导体参数分析仪基于全自主知识产权的 PXIe 架构设计，最多支持 18 个模块同时工作，可灵活组合直流 IV、CV、快速脉冲测量单元，通过高速总线与统一同步触发管理，实现多模块的精准协同测试，无需在多台仪器间反复切换，大幅提升测试效率与数据一致性。其核心测量能力达到 0.1fA 的电流分辨率，可稳定捕捉忆阻器、量子点等器件的超微弱信号；同时搭载无需编程的 Quick Test 模式，支持 Python 自定义器件测试算法，兼顾了易用性与灵活性，目前已进入复旦大学、清华大学等国内高校的采购清单，在二维材料、神经形态计算等前沿研究领域实现了落地应用。

核心性能参数

电流测量能力：0.1 fA（10⁻¹⁶ A）超高电流分辨率，可稳定捕捉忆阻器、量子点等器件的超微弱信号

硬件架构：基于 PXIe 架构，最多支持 18 个模块同时工作，配备高速总线通讯 + 统一同步触发管理，无需多台仪器切换

测试覆盖：可灵活组合直流 IV、CV、快速脉冲测量单元，适配多种 PXIe 仪表

软件能力：

无需编程的 Quick Test 模式（经典测试 / 应用测试 / 序列测试三种模式）

支持 Python 编程自定义器件测试算法，开放二次开发

产品优势
微弱电流探测
依托在源表领域持续多年的技术积累，SA8000实现了 0.1 fA（10-16 A）的电流测量分辨率，能稳定捕捉忆阻器、量子点等器件的超微弱信号，为前沿探索提供可靠的微弱信号测量能力。

全集成多维度测试能力
系统基于PXIe架构支持最多18个模块同时工作，可灵活组合直流IV、CV及快速脉冲测量单元。通过高速总线通讯及统一的同步触发管理，可以适配多种PXIe仪表。无需在多台仪器间反复切换，显著提升测试效率与数据一致性。

无需编程的Quick Test模式
经典测试模式：支持灵活多样的参数配置，满足多种测试场景需求；应用测试模式：可选用预置的多种器件算法，快速测试器件的特性曲线或关键参数；序列测试模式：支持自动顺序执行由多个经典测试或应用测试编辑的测试序列；

自定义器件测试算法
应用测试模式中的器件算法使用python 编程，开放供客户自定义器件测试算法。用户可根据自身研究需求，自定义器件的测试过程以及参数提取算法，极大提升测试灵活性与算法可复现性。

主要可选模块如下：

SA8000半导体参数分析仪

SA8000半导体参数分析仪

SA8000 广泛应用于各类半导体器件的研发与测试场景，涵盖传统器件与前沿研究领域：

SA8000半导体参数分析仪

典型的前沿领域应用：
1.忆阻器与神经形态计算研究内置波形产生与快速测量单元，最小脉宽200ns，可实时记录阻变过程，为类脑计算芯片提供高保真原始数据。
2.二维材料与量子器件研究得益于 0.1fA 的超低电流分辨率测量能力，SA8000 可精准表征二维材料（如石墨烯、MoS₂）的微弱电导变化，支持量子点等新型器件的工作机制研究。

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