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  • 吉时利 4200A-SCS 半导体参数分析仪
    吉时利 4200A-SCS 半导体参数分析仪作为集成式半导体特性分析系统,它可同步实现直流 I-V、C-V、超快脉冲 I-V 的高精度测量,配备的 Clarius 软件内置数百种应用测试模板,支持模块化定制升级,可扩展SMU、CVU、PMU等全品类模块,适配从 MOSFET、非易失性存储器到纳米器件、光伏器件的全场景测试需求。
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    更新日期

    2026-03-27
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  • Keysight B1500A 半导体器件参数分析仪
    是德科技 Keysight B1500A 半导体器件参数分析仪,则是一体化器件表征领域的另一座高峰。这款多功能分析仪支持 IV、CV、脉冲 / 动态 IV 等全维度测量技术,主机可灵活搭配大功率源表、高分辨率源表、多频率电容测量单元、超快脉冲测量单元等十余种插件模块,最小测量分辨率可达 0.1fA,最小选通脉宽低至 10ns,能够覆盖从成熟制程到优良工艺、从分立器件到大规模集成电路的全品类表征需求
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  • VT321半导体参数分析仪
    VT321半导体参数分析仪,支持SMU、LCR、PGU、PMU等PXIe标准模块,满足复杂测试需求。配备15.6英寸高清屏,预装Windows 10及VTNext软件,提供I-V、C-V、脉冲I-V测试功能,内置MOSFET、BJT、二极管、电阻及电容等丰富的器件类型库,为现代半导体、材料和工艺表征提供高级测试定义、参数分析、图表绘制和自动化功能。
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  • SA8000半导体参数分析仪
    SA8000半导体参数分析仪基于全自主知识产权的 PXIe 架构设计,最多支持 18 个模块同时工作,可灵活组合直流 IV、CV、快速脉冲测量单元,通过高速总线与统一同步触发管理,实现多模块的精准协同测试,无需在多台仪器间反复切换,大幅提升测试效率与数据一致性。
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  • FS-Pro半导体参数测试系统
    FS-Pro半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备。在一个系统中实现了电流电压(IV)测试、电容电压(CV)测试、脉冲式IV测试、任意线性波形发生与测量、高速波形发生与釆集以及低频噪声测试能力,几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在FS-Pro测试系统中完成。
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